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这也就是造成我们传感器电源波动测试中发射功率不足的主要原因。
2、发射死机问题
2.1现象
无线模块（加天线）在以20dBm发送时出现发送失败现象，程序死在等待发送完成处，接收端无法收到数据；
去除天线，以任何功率、速率都能成功发射； 降低发送功率，低于10dBm时也能正常发射；
模块选用的是32M晶振，程序配置成30M时能发射且不死（中心频率有一定偏移） 出现假死现象概率很高，最频繁时能达到每4~5个包就挂一次！ 2.2、测试
1）不加天线20dBm发送时SPI波形
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2）加天线时20dBm发射SPI波形（异常）
读取CTS时每次都回复 0x00。
2.3 问题分析
加上天线后射频芯片处于大功率工作状态，发送数据时采用查询方式进行扫描发送完成，及易导致射频芯片操作异常，尤其是还存在中断操作，故芯片死机概率较高。
2.4 解决方案：
方案一：整个程序中在写操作Si4463时不允许被中断（禁止中断），并且增加异常监测，连续发射异常或超时后需重新初始化射频芯片。此方案能够解决这以问题，但是对整个产品来说牺牲是很大的，禁止中断完全有可能导致各种异常，故不是最佳方案。
方案二：采用中断方式监测发送完成、接收等状态，产生相应中断后再读取状态，尽量避免持续操作射频芯片，但同时也需要增加芯片异常监测。实测该方案完全避免了模块死机问题，属于较为理想的方案。
3、其他
后续补充
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