通用电子元件进料检验规范

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通用电子元件进料检验规范

（一） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感) 1. 目的 便于IQC人员检验贴片元件类物料。 2. 适用范围 适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。 。 3. 抽样计划 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 4.允收水准（AQL） 次要缺点(MI): 1.5; 《LCR数字电桥操作指引》 《数字万用表操作指引》 5. 参考文件 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正检验方式 备注 包装检验 MA 确,任何有误,均不可接受。 b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 目检 数量检验 MA a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。 a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； 目检 点数 外观检验 MA c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受； e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； 目检 10倍以上的放大镜 检验时，必须佩带静电带。 电性检验 MA 元件实际测量值超出偏差范围内. LCR测试仪 数字万用表 检验时，必须佩带静电带。 二极管类型 检 测 方 法 可编辑

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选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极 LED 管不合格。 注：有标记的一端为负极。 其它二极管 选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。 抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 备注 盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指 引＂。

（二） 插件用电解电容.

1. 目的 2. 适用范围 3. 抽样计划 4.允收水准（AQL） 作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5; 《LCR数字电桥操作指引》、 《数字电容表操作指引》。 5. 参考文件 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 检验方式 备注 包装检验 MA 目检 数量检验 MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 a.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受； 目检 点数 外观检验 MA b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受； c.本体变形，破损等不可接受； d.Pin生锈氧化，均不可接受。 a.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使 用目检 每LOT取实际操作 5~10PCS在 小锡炉上验 证上锡性 可焊性检验 MA 之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收) 可编辑

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若用于新的尺寸规格检验 MA a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。 卡尺 Model，需在PCB上对应的位置进行试插 用数字电容表电性检验 MA a. 电容值超出规格要求则不可接受。 或LCR数字电桥测试仪量测

（三） 晶体类检验规范

1. 目的 作为IQC人员检验晶体类物料之依据。 2. 适用范围 适用于本公司所用晶体之检验。 。 3. 抽样计划 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》4. 允收水准（AQL） 严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5; 5. 参考文件 《数字频率计操作指引》 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都 正确,任何有误,均不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 数量检验 MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 a.字体模糊不清，难以辨认不可接受； 外观检验 MA b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受； c. 元件变形，或受损露出本体等不可接受； d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。 a.晶体不能起振不可接受； b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。 测试工位 和数字频率计 目检 检验方式 备注 包装检验 MA 目检 目检 点数 每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性 电性检验 MA 可编辑

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电性检测方法 晶体 32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz 检 测 方 法 在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看 测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。 在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机 24.576MHz 显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规 格范围内，则该晶体不合格。

（四） 三极管检验规范

1. 目的 2. 适用范围 3. 抽样计划 4. 允收水准（AQL） 5. 参考文件 检验项目 作为IQC人员检验三极管类物料之依据。 适用于本公司所有三极管之检验。 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5; 无 缺陷属性 缺陷描述 a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 检验方式 备注 包装检验 MA 都正确,任何有误,均不可接受。 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 目检 数量检验 MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目检 点数 可编辑

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a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； 外观检验 MA c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受； e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。

目检 10倍以上的放大镜 检验时，必须佩带静电带。 (五)排针&插槽(座)类检验规范

1. 目的 作为IQC人员检验排针&插槽(座)类物料之依据。 2. 适用范围 适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。 。 3. 抽样计划 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》4. 允收水准（AQL） 严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5; 5. 参考文件 无 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。 a. Marking错或模糊不能辩认； b. 塑料与针脚不能紧固连接； c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水； 外观检验 MA d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮; e.针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少； f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈; g.针脚端部成蘑菇状影响安装. 目检 检验方式 备注 包装检验 MA MA 目检 目检 点数 数量检验 可编辑