实验三 触发器的逻辑功能测试

实验三 触发器的逻辑功能测试

一、实验目的

1．验证基本RS触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能； 2．熟悉常用触发器的使用方法； 3．了解各类触发器间的相互转换方法。

二、实验仪器与器材

1．数字逻辑实验箱 2．信号源

一台 一台

3．集成电路74LS00、74LS74、74LS76及相关门电路

三、预习要求

1．复习第五章各种触发器的逻辑功能及使用方法。 2．熟悉D触发器和JK触发器的引脚排列及特性方程。

四、实验内容与要求

本实验在数字逻辑实验箱上进行，输入数据用逻辑开关设置，用发光二极管LED显示触发器的输出状态。

1．基本RS触发器逻辑功能测试

RD 图3-1 基本RS触发器 ? ? Q Q SD

用与非门集成芯片74LS00接成一基本RS触发器，测试当Rd与Sd输入不同状态“1”或“0”时，触发器初始状态Qn分别为“0”或“1”时输出端Qn+1的相应逻辑状态，并记入表3-1，Rd与Sd分别接到逻辑开关，按表3-1置“1”或置“0”，Q端接发光二极管。

表3-1

RD 0 0 1 1 SD 0 1 0 1 Qn 0 0 0 0 Qn?1 Qn 1 1 1 1 Qn?1

2．D触发器逻辑功能的测试

(1) 直接置位端Sd,复位端Rd的功能测试

选用双D触发器集成芯片74LS74,分别将置“0”端Rd和置“1”端Sd接到数据开关置“1”或置“0”，Q端接发光二极管，分别测试触发器的状态，记入表3-2。X代表触发器状态任意：即初状态Qn为“0”或“1”时，触发器D输入端为“0”或“1”都可。

表3-2

Qn X X D X X RD 0 1 SD 1 0 Qn?1 (2) D触发器逻辑功能的测试

改变输入端D的状态，在CP端加单次脉冲，测试当Qn=0及Qn=1时，Qn+1的逻辑状态，写出其真值表。

3．J-K触发器逻辑功能测试

(1) 直接置位端Sd，复位端Rd的功能测试

选用双J-K触发器集成芯片74LS76，测试当Sd及Rd不同时触发器的逻辑状态，并记入表3-3中。

表3-3

Qn X X J X X K X X RD 0 1 SD 1 0 Qn?1 (2)J-K触发器逻辑功能测试

改变J、K的状态，在CP端加单脉冲，测试当Qn=0及Qn=1时，Qn+1的逻辑状态，写出其真值表。

4．触发器逻辑功能转换测试 (1) 将D触发器转换成T触发器

T触发器的逻辑功能是每来一个时钟脉冲，触发器就翻转一次，即Qn?1?Qn，具有计数功能。自拟实验电路图，写出真值表，在CP端加单脉冲，测试逻辑功能。

(2) 将J-K触发器转换成T触发器

自拟实验电路图，并按真值表设置T端的状态，测试触发器的逻辑功能。 (3) 将D触发器转换成J-K触发器

欲使D触发器具有J-K触发器的功能，需用门电路组成一个转换电路，自拟实验电路图，

并测试逻辑功能。

五、实验报告要求

1．整理测试数据填入表格，说明逻辑功能；

2．画出与CP脉冲相应的各触发器输出端波形，并说明其触发方式；

3．画出触发器相互转换电路图，说明转换后的逻辑功能和触发方式与转换前有何改变； 4．画出J-K触发器与D触发器之间的相互转换电路。 六、思考题

1．如果要想使基本RS触发器具有计数功能，应如何改进电路？画出逻辑图。 2．J-K触发器Qn=0时，如要求时钟脉冲CP到来后使触发器处于“1”态，J、K两端应预先分别是什么状态？

3．主从型J-K触发器和维持阻塞型D触发器的触发边沿有何不同？

附：74LS74双正沿触发D触发器和74LS76、74LS112双JK触发器器件管脚图。