电镜专业词汇-章晓中

电镜词汇

说明：这些词汇按照各章节内容顺序总结，看词汇的同时也在把知识点复习

TEM_ Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜

SEM_ Scanning Electron Microscope 扫描电子显微镜

EPMA_ Electron Probe Microanalyzer 电子探针显微分析

STEM_ Scanning Transmission Electron Microscope

扫描透射电子显微镜

EDS_ X-ray energy dispersive spectrometer X光能谱分析

CBED_ Convergent Beam Electron Diffraction 会聚束电子衍射

EELS_ Electron Energy Loss Spectrometry 电子能量损失能谱

EBSD_ Electron Backscattered Diffraction 电子背散射衍射

SPM_ Scanning Probe Microscope 扫描探针显微镜

STM_ Scanning Tunneling Microscope 扫描隧道显微镜

AFM_ Atomic Force Microscope

原子力显微镜

HREM_ High Resolution Electron Microscope 高分辨电子显微镜

NBD_ Nano-beam Electron diffraction 纳电子衍射

resolution分辨率 diffraction衍射

Rayleigh criterion瑞利判据 accelerating voltage 加速电压 aberration像差

spherical aberration球差 chromatic aberration色差 astigmatism像散 distortion畸变

short magnetic lens短磁透镜 magnification放大率 Polepieces极靴

Cs: spherical aberration coefficient球差系数

α: semi-angle半角 tungsten wire钨丝

FEG: Field Emission Gun场发射枪 condenser lens会聚镜 specimen样品 Objective lens物镜

objective aperture物镜光阑

SAD_ selected area diffraction选取衍射 SAD aperture选区光阑 Intermediate lens中间镜 Projector lens投影镜 screen光屏

diaphragm隔片（光阑外的部分） insert插入

pattern图案，花样 camera chamber照相室

CCD_ Charge-Coupled Devices电荷耦合器件 IP_ Imaging plate成像板 vacuum真空

DP_ Diffusion Pump扩散泵

side-entry specimen holder侧入样品杆 grid微栅

Single-tilt holder单倾台 alignment对中 Thin foil薄膜

cross section specimen界面样品 prethinning预减薄 dimpler凹坑减薄仪

Tripod polisher三角抛光器

Twin-jet electropolishing apparatus 双喷电解抛光装置 Ion Milling离子减薄 slice薄片

Ultramicrotomy超薄切片法 Extraction Replication萃取复型

FIB_ Focused Ion Beam聚焦离子束（Ga） inert惰性

(in)elastic scattering（非）弹性散射 Bragg’s Law布拉格定律 Reciprocal lattice倒易点阵 Ewald Sphere爱瓦德球

Systematic absence系统消光 Relrod倒易杆

camera constant相机常数

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Weiss zone law晶带定律 Plot画出

corresponding相关 perpendicular垂直

Eucentric plane真实中心平面 Displacement位移 Index指数；标定

integer ratio relationship整数比关系 radii半径 calculate计算 ASTM（American Society for Testing Material） card美国试验材料学会

180o ambiguity 180度不确定度 dislocation位错 Calibration校正 symmetry对称

twinned crystals孪晶

twin reflection spots孪生反射点？？ High Order Laue Zone高阶劳埃带 edge边缘

superimpose重叠 Tetragonal四方 Orthorhombic正交 Hexagonal六方 Kikuchi Lines菊池线 hyperbolae双曲线 Kikuchi pole菊池极 Superlattice超点阵

Incommensurate structure无公度结构 textured specimen织构样品 Contrast衬度

Kinematical theory运动学理论 Dynamical theory动力学理论 Mass-thickness contrast质厚衬度 Phase contrast image相衬度 Z contrast Z衬度 absorption吸收

Diffraction contrast衍射衬度 BF: bright filed image明场像 DF: dark filed image暗场像

CDF: Centered Dark Field image中心暗场像 complementary互补

column approximation柱体近似 extinction distance消光距离

Thickness fringes等厚条纹

Bend Contour弯曲轮廓（等倾条纹） invisibility criterion of defects 缺陷不可见判据 Stacking fault层错

Screw dislocation螺位错 Edge dislocation刃位错 real dislocation真实位错 Burgers vectors泊氏矢量 Moiré patterns云纹图案

effective extinction distance有效消光距离 Characteristic X-ray特征X光 SE: secondary electron慢二次电子 topographic contrast形貌对比 Auger Electron俄歇电子

CL: cathodoluminescence阴极荧光

Transmitted electrons透射电子（EELS） Scan coils扫描线圈

specimen chamber样品室 Cathode Ray Tube阴极射线管

Secondary electron yield δ二次电子产率 trajectory轨迹

BSE: Backscattered electron背散射电子 Channelling contrast通道衬度 orientation取向

spatial distribution of composition 成分空间分布

Absorption electron image吸收电子像 S/N: signal noise ratio信噪比 charging充电现象

a large depth of focus很大景深 Fracture surface断口表面

EBSP:Electron Backscatter Diffraction Pattern 电子背散射衍射图案

Crystal Orientation Mapping晶体取向成像 Variable -Pressure SEM可变气压扫描电镜 ESEMTM: Environmental SEM环境扫描电镜 GSED: gaseous secondary electron detector 气体二次电子探测器

Si(Li) detector 锂漂移硅探测器 WDS: Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer X射线波谱仪

MCA: multichannel analyzer多通道分析仪 overlapped peak重叠峰

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spot analysis点分析 Line scan线扫描

Element mapping元素分布图 volume exited激发体积

Quantitative analysis定量分析 weak-phase-object approximation 弱相位物体近似

scherzer defocus Scherzer欠焦 specimen thickness样品厚度

NED: nano-area electron diffraction 微衍射 disc盘

chemical bonding化学键

Energy Filtered Image能量过滤像

HAADF:High-angle annular dark field images 高角环形暗场像

atomic number contrast原子序数衬度 Electron holography电子全息

Electron tomography电子断层扫描 Cs-corrected TEM球差校正透射电镜 In-situ TEM原位透射电镜

E-beam Lithography电子束曝光

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