表4.2 环境管理物质的主要对象和禁止供货时期 等级 物质名称 1级 对象 禁止供货期 对象 z 塑料(包括橡胶)材料中使2级 禁止供货期 3级 对象 禁止供货期 用的稳定剂、颜料、染料(电气联机的绝缘体、捆绑带、、标签、等) z 涂料、墨水 z 表面处理(电镀等)、涂层 z 包装材料，参见包装材料一览表 z 于包装部件，塑料部位的镉含量<5PPM，而且包装材料镉以及 中的汞、镉、铅、六价铬的镉化合物 总含量<50PPM z 日光灯（小型日光灯，直管日光灯） z 焊锡(镉含量20PPM以上) z 温度保险丝的可熔体 z 电阻（玻璃料）等 z 荧光显示装置中含有的荧光体 由含锌金属（黄铜锌铸件等）构成的部件、部位，镉含量超过75PPM的产品。 重 金 属 类 立即执行立即执行 (从2005年10月1日开始) 备注：适用对象外:1.光学玻璃、虑光玻璃; 2.要求使用可靠性高的电接点电镀而没有代替材料的产品. 允许浓度：1、塑料(包括EVA、橡胶)、油类、色粉、墨水、胶带和一些电子组件的塑料套管(如电解电容的套管)<5PPM。 2、 所有焊锡的镉杂质含量均<10PPM。 3、由含锌金属（黄铜锌铸件等）构成的部件、部位，镉含量超过75PPM的产品。 测定标准： (1) 预处理 有关预处理方法：A）采用硫酸、硝酸以及过氧化氢存在下的湿式分解法(例如BS EN 1122:2001)。B）硫酸存在下的灰化法。C）在密闭容器中的加压酸分解法(包括微波分解法（例如EN13346:2000或EPA3052:1996）。D)采用硝酸、过氧化氢的酸分解法（例如EPA3050B REV2:1996）等。发生沉淀物时使用某种方法进行溶解。 (2) 测定法 A)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES,ICP-OES)例如ENISO11885:1998。B)原子吸收分光光度法(AAS)例如ENISO5961:1995。C)电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)。 除以上之外，通过预处理和测定方法的结果可以保证镉的定量下限为小于5ppm时,则规定该组合方法所得到的测定结果合格。 此外，镉和铅可以用上述2中的测定方法进行分析,但是,( B)原子吸收分光光度法(AAS)的方法除外)。 备注：溶出法的EN71-3:1994 ASTM F963-96a, ISO8124-3等为不适合。 工业排水试验法的JISK0102-55仅为测定法，必须一同记述预处理方法。 5/29
等级 物质名称 1级 对象 z 用于印刷电路板而使用铅的涂料、颜料、墨水。 z 包装材料，参见包装材料一览表。 z 塑料件（含电线，连接器）、油漆、墨水(稳定剂、成型剂、颜料、染料) z 部件的电极、引导端子等的焊锡处理(电气部件、半导体设备、散热片等) z 除小型密封铅电池外，铅含有量达总重量0.4%以上的产品 z 3级以外的所有用途如： z 铅在85 wt%以下的有铅焊锡中，所含有的铅的含量在700ppm以上的产品。含有允许浓度＊1以上的各种合金(包括焊锡材料)；线材（被履材）<300ppm。 z 无电解镍、无电解金时，电镀镀中的铅超过1000PPM的部件。 禁止供货期 2级 对象 禁止供货期 3级 对象 禁止供货期 z 使用淤无电解铅以及铅化合物 立即执行 镀镍、镀金时的稳定剂、添加剂中的铅未超過1000PPM的部件z 含有的如下合金(＊1) z 合金的种类 含铅允许浓度 钢材：0.35 wt%以下 铝合金：0.4 wt%以下 铜合金：4 wt%以下焊锡：700PPM以下 重 金 属 类 备注： a. 部件、设备的内部连接用高熔点焊锡(铅为85 wt%以上的有铅焊锡) b. 电子陶瓷部件(压电组件、陶瓷感应材料) 、 磁性材料（铁氧体）。 c. 显像管、电子部件、荧光显示管所使用的玻璃材料 d. 电子部件中使用的玻璃材料，包括电阻、导电糊剂、粘结剂、玻璃料密封材料等 e. 连接FLIP CHIP器材封装内部的半导体芯片和连接线路板的焊锡（包括C4焊锡球下的焊锡浆）等为适用对象外部件。 允许浓度：塑料(包括EVA、橡胶)、油类、色粉、墨水、胶带和一些电子组件的塑料套管(如电解电容的套管)<100PPM(包括从其它金属材料的“带入”和测定装置的检测下限。 测定标准： (1) 预处理 有关预处理主要有四种方法：A）存在硫酸状态下进行的灰化法。B）在密闭容器中的加压酸分解法(包括微波分解法（例如EN13346:2000或EPA3052:1996）C）采用硝酸、盐酸、过氧化氢的酸分解法（例如EPA3050B REV2:1996）。D)采用硝酸、过氧化氢溶液进行的湿式分解法等。 注：如果发生沉淀物时，必须使用某种方法（碱溶法等）完全溶解该沉淀物。 (2) 测定法 A) 感应耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES,ICP-OES)例如ENISO11885:1998。B)原子吸收分光光度法(AAS)例如ENISO5961:1995。C)感应耦合等离子体质谱法 (ICP-MS)。 除以上之外，通过预处理和测定装置的组合，如果可以保证铅的定量下限为30ppm以下时则作为正品。此外，镉和铅可以用上述AAS以外的方法同时进行分析。 备注：EN1122及溶出法的EN71-3:1994 ASTM963-96a, ISO8124-3为不适合预处理。 工业排水试验法的JISK0102-55仅为测定法，必须一同记述预处理方法。 6/29
等级 物质名称 1级 对象 禁止供货期 2级 对象 z 包装材料参见包装材料一览3级 禁止供货期 对象 禁止供货期 汞以及汞化合物 表 z 颜料、涂料、墨水 z 計时器 z 小型日光灯(液晶背光等)：每一支的含量超过10 mg z 直管日光灯；每一支的含量超过20 mg z 使用汞作为接点的继电器、开关、传感器、塑料中的添加剂 z 小型日光灯：每一支的含量5 mg以上 z 直管日光灯：每一支的含量5mg以上 z 适用对象外所有用途 立即执行 重 金 属 类 备注： a. 小型日光灯，直管日光灯以外的灯(高压汞灯等) b. 小型日光灯：每一支的含量5 mg以下 c. 直管日光灯；每一支的含量为5mg以下为适用对象外部件。 允许含量： 1. 在包装材质中铅、镉、六价铬、汞的总含量<100PPM 2.其它非注明金屬、聚合物、無機非金屬、專用電子材料等中的汞含量小于1000PPM 测定标准： （1） 预处理 预处理方法：A)密闭容器内的加压酸分解法(包括微波分解法（例如EPA3052B）。B)采用回流冷却器分解烧瓶（凯尔达法），用硫酸、硝酸水分解，使其成为溶液。C)加热气化-冷原子吸光法。无论使用何种方法都不能让汞挥发，另外发生沉淀时，必须采用某种方法使其容解成溶液。 （2） 测定装置 同镉，铅测定装置。 但是如果估计为低浓度混入，采用还原汽化原子吸光法或带有氢气发生装置的ICP-AES,ICP-OES分析为其标准。 通过以上的预处理和测定装置的组合，如果可以保证汞的定量下限为5ppm以下时则作为正品。 7/29
等级 物质名称 1级 对象 禁止供货期 2级 对象 禁止供货期 3级 对象 禁止供货期 z 塑料件、油漆（稳定剂、颜六价铬化合物 料、染料等）、墨水、电镀防锈处理(螺丝、钢板等) z 包装材料 z 电镀防锈处理(螺丝、钢板 ) 立即执行 重 金 属 类 允許含量： 1. 包装材料中六价铬允许含量：作为总铬含量进行分析，4种元素合计为100PPM以下，但是4种元素合计为100PPM以上时确方法。 2. 其它非注明金屬、聚合物、無機非金屬、專用電子材料等中的六價鉻含量小于1000PPM +6a) 采用IEC62321測定結果為陰性（Negative）,表示未測出Cr 六价铬测定标准： （1）预处理方法 溶出法（沸腾水抽取法、碱提取法“例如EPA 3060A”）。对于包装材料中总铬的测定，预处理方法同塑料中镉、铅的方法 （2）测定装置 紫外-可见光吸光光度法（例如EPA 7196A）。 如果预处理和测定装置的各种组合，可以保证定量下限分汞5Pppm以下、镉5ppm以下、总铬5ppm以下、铅30ppm以下，则为正品。此外同时采用AAS以外的方法对镉、铅、总铬量进行分析。 等级 物质名称 1级 对象 禁止供货期 2级 对象 z 与人体直接接触的零件等3级 禁止供货期 对象 陶制品、电池、镀层、传感器、磁性零件、终端设备、合金、电路连接件。 禁止供货期 镍以及镍化合物 镍含量超过5ppm z 外部底盘/表层部件（稳定剂、成型剂、颜料） 立即执行 重 金 属 类 允许含量：1、与人体直接接触的零件的含量小于5ppm 2、外部底盘/表层部件（稳定剂、成型剂、颜料）的含量小于100ppm。 测定标准： （1） 预处理 预处理方法：预处理方法同塑料中镉、铅的方法。 （2） 测定装置 测定装置同塑料中镉、铅的测定方法。 通过以上的预处理和测定装置的组合，如果可以保证镍的定量下限为5ppm以下时则作为正品。 8/29
等级 物质名称 铍以及铍化合物 1级 对象 除三級外的所有用途 禁止供货期 立即执行 2级 对象 禁止供货期 3级 对象 合金、陶制品 禁止供货期 允许含量：3级外的所有用途的含量<5ppm。 重 金 属 测定标准： 类 （3） 预处理 预处理方法：预处理方法同塑料中镉、铅的方法。 （4） 测定装置 测定装置同塑料中镉、铅的测定方法。 通过以上的预处理和测定装置的组合，如果可以保证铍的定量下限为5ppm以下时则作为正品。 等级 物质名称 1级 对象 禁止供货期 2级 对象 锑以及锑化合物 焊料、阻燃剂、染料 、油漆、立即执催化剂、稳定器等锑含量超过行 1000ppm 立即执行 3级 禁止供货期 对象 禁止供货期 合金、陶制品 △氧化铍 铍青铜 所有用途 所有用途 重 金 属 类 参考测定标准： （5） 预处理 预处理方法：预处理方法同塑料中镉、铅的方法。 （6） 测定装置 测定装置同塑料中镉、铅的测定方法。 通过以上的预处理和测定装置的组合，如果可以保证锑的定量下限为1000ppm以下时则作为正品。 砷以及砷化合物 3级外的所有用途 立即执行 半导体、感光体 允许含量：3级外的所有用途的含量<5ppm。 参考测定标准： (1)预处理 预处理方法：预处理方法同塑料中镉、铅的方法。 (2)测定装置 测定装置同塑料中镉、铅的测定方法。 通过以上的预处理和测定装置的组合，如果可以保证砷的定量下限为5ppm以下时则作为正品。 9/29
相关推荐：
loading