第三节 透射电镜的应用
一、复型在金相分析中的应用 （一）钢中典型组织的观察 1．珠光体
奥氏体在C曲线“鼻子”上部分区域分解的产物为珠光体型组织，包括珠光体、索氏体和屈氏体，都是铁素体与渗碳体的机械混合物，区别只是层片间距不同而已。珠光体组织内层片的粗细和冷却速度、转变温度有关，冷速愈快，转变温度愈低，所形成的珠光体则越细。由于珠光体在晶
界形核，然后向晶内长大直至相遇，所以 图5—21 T8，退火，5000×组织：珠光体 在一个奥氏体晶粒内有若干不同位向的珠 光体领域。见图5—21 2．贝氏体
奥氏体在中间温度（低于珠光体转变温度，高于马氏体转变温度）的转变产物为 贝氏体，贝氏体也是铁素体和渗碳体的两相组织，但其相变机制和组织形态与珠光体不同。随着钢的成分及转变温度的不同，贝氏体形态有很大差别，大致可分为三类：上贝氏体、下贝氏体和粒状贝氏体。
上贝氏体是在贝氏体转变区的较高温度范围内形成的。在光镜观察时可看到羽毛状或单羽毛状特征，一般是沿奥氏体晶界长出。其中渗碳体粒子很难辨别。复型图象可清晰地显示上贝氏体由大体平行的铁素体条和分布于其间的断续杆状渗碳体所组成。见图5—22。
下贝氏体在低温范围形成，光镜下呈黑色针叶状，并相互成角度。复型电镜观察表明，在铁素体片内沉淀的细小碳化物有一定的取向，与铁素体片长轴成55o~60o角。见图5—23 。
图5—22 GCr15，900℃奥氏体化 图5—23 GCr15，970℃奥氏体化 400℃等温7秒，7000×，组织：上贝氏体 300℃等温30秒，7000×，组织：下贝氏体
1
3. 马氏体
通常，奥氏体快速冷却时得到马氏体，其形态根据含碳量不同可分为两类：低碳马氏体和高碳马氏体，含碳量在0.2~1%时为两者的混合组织。
低碳马氏体呈条束状排列。同一领域内的马氏体条大致平行，领域之间位向不同。交角60o、90o等，因为其亚结构为大量位错线缠结，又称它为位错马氏体，见图5—24。高碳马氏体呈针片状，片的大小不一，有一定的交角，马氏体片间往往有残余奥氏体存在，高碳马氏体的亚结构是极薄的孪晶组织，又叫孪晶型马氏体。马氏体片中
图5—24 40Mn 加热至860℃，水冷 2000× 图5—25GCr15 加热至900℃，水冷 3000×
组织：板条马氏体 组织：针状马氏体
还常常可以看到中脊线。见图5—25。 （二）化学热处理渗层组织观察
在电镜下观察化学热处理零件的渗层组织与测量其层深是十分有效的。但由于复型样品边缘碳膜折迭、破碎、卷曲，往往不容易得到完整的表层复型。为了得到较为完整的渗层复型，在制备金相试样时将表层紧紧贴夹铜片，镍片或环氧树脂，然后磨、抛光、腐蚀并将其制成复型样品。在观察时只要找到铜或镍的复型就可找到渗层的最表层，因而能够观察从表面到心部组织变化和测量其层深。 （三）大型零件组织的复型观察
大型零件出故障后，为了分析原因找出补救措施，可在现场做复型。把零件局部抛光、腐蚀、贴AC纸，取下复型后拿回实验室做投影喷碳，制成样品，观察组织，分析故障原因。这种方法既方便，又不损坏零件。
二、萃取复型的应用
应用萃取复型技术可观察夹杂物或第二相粒子的大小、形态、分布以及通过衍射研究它们的点阵类型和晶体结构。在任何一种合金钢中都或多或少地存在着一些非金属夹杂物。在外力作用下由于它们和基体之间性能上的差异，一般常在它们和基体的界面处产生很大应变，随之形成微裂纹，在材料断裂后，它们一般还保留在断口表面上，用光学显微镜无法查出小尺寸夹杂物。用萃取复型方法萃取到断口复型上，在观察形貌的同时就可以利用电子衍射技术对它们进行物相鉴定，即定出它们的晶体结构。
2
这样就会很容易地把造成断裂的夹杂物大小、分布和结构查出来。如果在透射电镜上再配合能谱仪还可查出夹杂物的成分。
作晶体取向关系分析时选区光阑内除基体之外往往有几个沉淀相同时存在，给衍射花样分析工作带来一定困难。通过材料、工艺、热处理制度分析后可以确定存在相的类型。用萃取复型技术分别萃取不同的沉淀相，分析沉淀相的大小、形态、分布及结构，为晶体取向关系分析工作提供信息。 三、金属薄片的典型组织观察 （一）钢中典型组织的薄膜观察 1． 珠光体。 2． 上贝氏体。 3． 下贝氏体。 4． 板条马氏体。 5． 片状马氏体。
（二）亚结构的观察 1． 双相不锈钢
双相不锈钢经固溶处理后为铁素体，奥氏体两相，晶体内部存在着许多缺陷，如位错、层错等。在这块样品上可以看到位错、层错、等厚条纹、等倾条纹等许多衬度特征，以及电子衍射图样（单晶、多晶）和菊池线等。分述如下： （1）位错
晶体中位错的存在，使局部区域晶格发生崎变。当某一组晶面与布拉格条件的偏离参量为S。时位错线引起晶面畸变造成额外的附加偏差S′，从而造成其衬度，在明场象中，位错象为暗线（图5—26）；在暗场象中，位错象为亮线。位错象与其在晶体中的实际位置有所偏离，而且有一定的宽度，随着位错的性质、它在晶体中位置及取向等的不同，位错象出现线状、点状和锯齿状等特征。
（2）层错 图5-26 材料：双相不锈钢，固溶处理
层错是最简单的平面型缺陷，它发生在确定 50000×，位错 的平面上，层错的两边是一对不全位错。在电镜
中看到的层错象是平行的、笔直的、明暗相间的条纹。在明场象中，条纹有对称性，边上的黑线为不全位错；在暗场象中条纹是不对称的（图5—27）。倾斜样品台时象衬 度发生变化，两个层错重叠时，若恰好使某一段层错的衬度相互抵消，出现断续的层错象，当层错满足不可见性条件时，层错象消失。利用这一性质，可以区分出层错象和楔形晶体的等厚条纹。
3
明场图 暗场图 图5—27 不锈钢，固溶处理，层错，等厚条纹，150000×
（3）等厚条纹
在薄膜样品的楔形边缘处出现厚度消光条纹，它是大体上平行于薄膜边缘亮暗条纹，同一亮线或暗线所对应的样品位置具有相同的厚度，因此称为等厚条纹。在倾斜晶界处，也会出现厚度消光条纹。明场象暗场象中等厚条纹具有互补性。 （4）等倾条纹
具有弹性形变的薄膜晶体发生弯曲，如果某一弯曲面恰好满足布拉格条件，出现衍射极大值，电镜明场象中为暗线，由于有同一晶带的许多晶面组发生较强的衍射，相应的等倾条纹呈明显的对称分布。暗场象中也是明暗相间的条纹，这种条纹又称弯 曲消光轮廓。 （5）菊池花样
当样品厚度适宜（约5~6ξg）、选择的单晶体足够完整（缺陷很少），除了衍射斑点外，还可以看到一系列成对的亮线暗线组成的花样，称为菊池花样，成对的亮线和暗线称为菊池线（图5—28）。菊池花样的位置对晶体位向很敏感，而衍射斑点的位置不随晶体的位向而变化，因此随着样品的倾动，菊池线对迅速地扫动，它们相对于衍射斑点的位置发生的变化可用来确定晶体的位向。
图5—28 菊池衍射花样 图5—29 ZG28，奥氏体化后水冷 位错马氏体，30000×
4
相关推荐：
loading