的工作波形（示波器时基设定在2～5ms）。
（2） TPMZ07为接收端DSP调整之后的最佳抽样时刻。用示波器同时观察TPMZ07
（观察时以此信号作同步）和观察抽样判决点TPN04信号波形之间的相位关系。
5. 解调器失锁时抽样判决点信号观察
将解调器相干载波锁相环（PLL）环路跳线开关KL01设置在2_3位置，使环路失锁。用示波器观察测试模块内抽样判决点TPN04信号波形，观测时示波器时基设定在2～5ms。熟悉解调器失锁时的抽样判决点信号波形。
（三）DBPSK调制
1. 差分编码观测
通信原理实验箱仅对“外部数据输入”方式输入数据提供差分编码功能。外部数据可以来自误码仪产生或汉明编码模块产生的m序列输出数据。当使用汉明编码模块产生的m序列输出数据时，将汉明编码模块中的信号工作跳线器开关SWC01中的H_EN和ADPCM开关去除，将输入信号跳线开关KC01设置在m序列输出口DT_M上（右端）；将汉明译码模块中汉明译码使能开关KW03设置在OFF状态（右端），输入信号和时钟开关KW01、KW02设置在来自信道CH位置（左端）。
通过菜单选择发送数据为“外部数据输入”方式。
（1）将汉明编码模块中的信号工作跳线器开关SWC01中M_SEL2跳线器插入，产生
7位周期m序列。用示波器同时观察DSP+FPGA模块内发送数据信号TPM02（或汉明编码模块TPC04输出的m码序列）和差分编码输出数据TPM03，分析两信号间的编码关系。记录测量结果。
（2）将汉明编码模块中的信号工作跳线器开关SWC01中M_SEL2和M_SEL2跳线器
都插入，产生15位周期m序列，重复上述测量步骤。记录测量结果。
2. DBPSK调制信号0/π相位测量
选择输入调制数据为0／1码。用示波器的一路观察调制输出波形（TPK03），并选用该信号作为示波器的同步信号；示波器的一路连接到调制参考载波上（TPK06/或TPK07），以此信号作为观测的参考信号。仔细调整示波器同步，观察和验证调制载波在数据变化点发生相位0/π翻转。
3. DBPSK调制信号频谱测量
测量时，用一条中频电缆将频谱仪连结接到调制器的KO02端口。调整频谱仪中心频率为1.024MHz，扫描频率为10KHz/DIV，分辨率带宽为1～10KHz左右，调整频率仪输入信号衰减器和扫描时间为合适位置。
通过菜单选择m序列码输入数据，观测DBPSK信号频谱。测量调制频谱占用带宽、电平等，记录实际测量结果，画下测量波形。
（四）DBPSK解调
1. 接收端解调眼图信号观测
（1） 首先用中频电缆连结KO02和JL02，建立中频自环（自发自收）。测量解调器I
支路眼图信号测试点TPJ05（在A/D模块内）波形，观测时用发时钟TPM01作同步。
（2） 将跳线开关KL01设置在2_3位置，调整电位器WL01以改变收发频差，重复
上述测量步骤（示波器时基设定在2～5ms），并分析测试结果。
（3） 观测正交Q支路眼图信号测试点TPJ06（在A/D模块内）波形。联系BPSK解
调器失锁时的眼图信号测量内容，分析解释其原因。
（4） 测试模块中的TPN02测试点为接收端经匹配滤波器之后的眼图信号观测点。通
过菜单选择“匹配滤波”方式设置，重复上述实验步骤。
2. 解调器抽样判决点信号观察
（1） 选择输入测试数据为m序列，用示波器观察测试模块内抽样判决点（TPN04）
的工作波形（示波器时基设定在2～5ms）。
（2） 将跳线开关KL01设置在2_3位置，调整电位器WL01以改变收发频差，观察
对抽样判决点信号波形有无影响。
（3） TPMZ07为接收端DSP调整之后的最佳抽样时刻。用示波器同时观察TPMZ07
（观察时以此信号作同步）和观察抽样判决点TPN04波形（抽样判决点信号）的之间的相位关系。
3. 解调数据观察
（1） 在上述设置跳线开关基础上，用示波器同时观察DSP+FPGA模块内接收数据信
号TPM04和发送数据信号TPM02，比较两数据信号进行是否相同一致（正常差分译码）。
（2） 通过菜单选择发送数据为“特殊码序列”方式，测量发送与接收数据信号的传
输延时，记录测量结果。
（3） 在“特殊码序列”方式下，重复按选择菜单的确认按键，让解调器重新锁定，
观测DBPSK解调器电路是否正确解码。
五、 实验报告
（1） 记录实验波形和数据 （2） 叙述BPSK、BDPSK调制的优缺点 （3） 比较BPSK和2ASK，它们有何异同。为什么一般不采用2ASK？ （4） 为什么需要差分的BDPSK调制 （5） 叙述Nyquist滤波的作用
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