四、实验步骤
1. 在实验室的开阔区域，部署读写器，使读写器天线朝向开阔区域，固定读写
器天线在高h处，并保持天线平面垂直于地面。 2. 取5种不同的RFID标签，验证标签是否能够正常读取。
3. 开启读写器。打开读写器控制软件，设置读写器发射功率Output level为
-10，开启读取功能。
4. 取第一款标签，测量标签平面与读写器天线平面的角度分别为0°，30°，
60°，90°，120°，150°，180°时，标签的最大读取距离（最大读取距离的具体测试方法，请参照前面的最大读取距离测试实验）。记录测试结果。如表9-1所示。
表9-1 不同角度下标签的最大读取距离记录
序号 1 名称 05-06-CD(10) 0° 105 30° 77 60° 34 90° 20 120° 33 150° 80 180° 108
对其余几款标签依照（4）的方法，进行不同角度下的大读取距离测量，并记录测试结果，如表9-2所示。
表9-2 不同角度下，几款标签的最大读取距离记录
序号 1 2 3 4 5
名称 01-01-CD（10） 02-02-CD（10） 03-03-CD（10） 03-03-CD（10） 04-04-CD（10） 0° 110 104 107 112 102 30° 80 78 75 87 89 60° 35 37 40 43 47 90° 18 23 31 29 32 120° 32 36 43 45 50 150° 78 87 79 78 80 180° 109 107 110 113 99
实验十 Gen2协议下标签操作编程实验
一、实验目的
本实验通过对Gen2协议下标签的读写等操作，熟悉和掌握超高频读写器的
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工作流程，并完成示例程序。 二、实验器材
1. RFID实验箱 2. 超高频标签若干张 3. 计算机一台 三、实验环境及准备
开发平台采用Visual Studio 2008，新建一个C++ Win32控制台应用程序，
然后将CommandLib.h、CommandLib.cpp、SerialPort.h和SerialPort.cpp四个文件添加到工程中，然后在代码中引用这几个文件即可。
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HF高频实验
实验四 ISO14443A协议下标签数据读写实验
一、实验目的
本实验在ISO14443A协议下对S50卡进行数据读写，并修改S50卡的存取控制位，并观察其对数据读写的影响。 二、实验器材
1. RFID实验箱 2. USB传输线一根 3. S50卡一张 4. 计算机一台 三、实验内容
1. 读取卡的数据块的信息。 2. 修改卡的数据块的信息。
3. 修改卡的存取控制位改变其数据块读写的属性。 4. 在存取控制位修改之后重新读写数据块的信息。 四、实验步骤
1.打开RFID实验箱，连接好实验箱和电脑，启动电源。 2.取S50卡一张，放置于高频读写器天线上。
3.打开读写器后台控制软件，设置好读写器的相应COM端口以及波特率（具体步骤见实验一），右键选择14443A模块，进入14443A模块界面，如图4-1示。
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