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干法腐蚀工艺培训讲义
目 录
基本概念
干法腐蚀基本原理
常用材料的等离子体腐蚀原理与工艺在线干法腐蚀设备结构/原理简介 干法腐蚀工艺中的终点检测 干法去胶
在线腐蚀工艺中常见异常及处理方法第一章 基本概念
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1. WHAT IS ETCHED?
A process for removing material in a specified area through chemical reaction and/or physical bombardment.
2. WHAT WE ETCHED? 1) Dielectric (oxide,nitride,etc.) 2) Silicide (polysilicon and silicide) 3) Silicon(single crystal silicon) 4) Metal(AL.Cu.Si)
3. WHAT IS ETCH RATE?
腐蚀速率是指所定义的膜被去除的速率,单位通常用UM/MIN,A/MIN 来表示。 4.E/R UNIFORMITY
表示一个圆片中不同点腐蚀速率的差别(WITHIN A WAFER)或两个以上圆片片与片之间的腐蚀速率差异(WAFER TO WAFER。)
如:假定一个圆片片内测试了5个点,那就有5个速率值
UNIFORMITY=(MAX ETCH RATE—MIN ETCH RATE)/2/(AVERAGE ETCH RATE)*100% 5. SELECTIVITY
是指两种不同膜的腐蚀速率比。选择比反应腐蚀过程中主要被腐蚀膜对另一种膜的影响(光刻胶,衬底等)
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6. ISOTROPY---各向同性
腐蚀速率在纵向和横向上相同。 7.ANISOTROPY---各向异性 腐蚀速率在纵向和横向上不一样。
8.CD---(CRITICAL DIMENSIONS)关键尺寸 CD LOSS---条宽损失
9.LOADING---负载效应 MICROLOADING(微负载效应)---不同的孔尺寸或纵深比例对腐蚀速率和选择比的影响。
MACROLOADING(宏负载效应)--不同的暴露面积影响腐蚀速率差异。 10.PROFILE ---剖面形貌
第二章 干法腐蚀基本原理
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干法腐蚀又称等离子腐蚀。根据设备腔体结构的不同,可分为:①圆筒型等离子腐蚀②平行板等离子腐蚀③平行板反应离子腐蚀④反应离子束腐蚀⑤离子束铣腐蚀等。本文主要介绍等离子腐蚀和反应离子腐蚀的基本原理。
一、 等离子体腐蚀
等离子腐蚀是依靠高频辉光放电形成的化学活性游离基与被腐蚀
材料发生化学反应的一种选择性腐蚀方法。
气体中总存在微量的自由电子,在外电场的作用下,电子加速运
动。当电子获得足够的能量后与气体分子发生碰撞,使气体分子电离发出二次电子,二次电子进一步与气体分子发生碰撞电离,产生更多的电子和离子。当电离与复合过程达到平衡时,出现稳定的辉光放电现象,形成稳定的等离子体(PLASMA)。等离子体中包括有电子、离子、还有处于激发态的分子,原子及各种原子团(统称游离基)。游离基具有高度的化学活性,正是游离基与被腐蚀材料的表面发生化学反应,形成挥发性的产物,使材料不断被腐蚀。
等离子腐蚀设备可以分为筒式和平板式两种。
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二、 反应离子腐蚀
三、 平板反应离子腐蚀与平板等离子腐蚀的区别
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