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TPE—D型实验指导书-数字电子技术 - 图文

来源:用户分享 时间:2025/5/28 18:00:15 本文由loading 分享 下载这篇文档手机版
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实验二 组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算)

一、实验目的

1.掌握组合逻辑电路的功能调试。 2。验证十加器和全加器的逻辑功能。 3。学会M进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料 器件

74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三、预习要求

1.预习组合逻辑电路的分析方法.

2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.预习二进制数的运算。 四、实验内容

1.组合逻辑电路功能测试。

(1).用2片74LS00组成图 2。1所示逻辑电路。为便于接线和检查.在图中要注明芯片编

号及各引脚对应的编号。

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(2).图中A、B、C接电平开关,YI,Y2接发光管电平显示.

(3)。按表2。1要求,改变A、B、C的状态填表并写出Y1,Y2逻辑表达式. (4).将运算结果与实验比较.

表2.1 输入 A 0 0 0 1 1 1 1 0

2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻 辑功能.

根据半加器的逻辑表达式可知.半加器Y是A、B的 异或,而进位Z是A、B相与,故半加器可用一个集 成异或门和二个与非门组成如图2.2. (1).在学习机上用异或门和与门接成以上电路. 接电平开关S.Y、Z接电平显示.

B 0 0 1 1 1 0 0 1 C 0 1 1 1 0 0 1 0 Y1 输出 Y2 (2).按表2.2要求改变A、B状态,填表. 图 2.2 表2.2 输入端 A B 输出端 Y Z

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0 0 1 0 0 1 1 1 3.测试全加器的逻辑功能。

(1).写出图2.3电路的逻辑表达式。 (2).根据逻辑表达式列真值表.

(3).根据真值表画逻辑函数S;C;的卡诺图.

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(4).填写表2.3各点状态

表2.3 Ai 0 0 1 1 0 0 1 1 Bi 0 1 0 1 0 1 0 1 C i?10 0 0 0 1 1 1 1 Y Z X1 X2 X3 Si Ci 8

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