数电实验报告汇总 - 图文

实验2 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算） 一、实验目的

1.掌握组合逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。

二、实验仪器及材料

1.Dais或XK实验仪 2.万用表

3.器件： 74LS00 三输入端四与非门

74LS86 三输入端四与或门 74LS55 四输入端双与或门

一台 一台 3片 1片 1片

三、预习要求

1.预习组合逻辑电路的分析方法。

2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.学习二进制数的运算。

四、实验内容

1.组合逻辑电路功能测试。

图2－1

⑴用2片74LS00组成图2－1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。

⑵图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管显示。

⑶按表2－1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。 ⑷将运算结果与实验比较。

表2－1 输 入 A 0 0 0 1 1 1 1 0

(5)实验过程及实验图：

1）连线图：

B 0 0 1 1 1 0 0 1 C 0 1 1 1 0 0 1 0 输 出 Y1 0 0 1 1 1 1 1 1 Y2 0 1 1 1 0 1 0 0

2）实验图：

(6)实验总结：

用两片74ls00芯片可实现如图电路功能

2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。

根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2－2。

图2－2

⑴ 在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。 ⑵ 按表2－2要求改变A、B状态，填表。

表2－2 输入端 输出端 A B Y Z 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 （3）实验过程及实验图： 1）管脚图：

2）实验图

（4）实验总结：用异或门（74LS86）和与非门可组成半加器

3.测试全加器的逻辑功能。

⑴写出图2－3电路的逻辑表达式。 ⑵根据逻辑表达式列真值表。

⑶根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。

Ai Bi,Ci-1 0 1 00 0 1 01 1 0 11 0 1 Si=

⑷填写表2－3各点状态。

10 1 0

Bi Bi,Ci-1 0 1

图2－3 表2－3

00 0 0 Ci=

01 0 1 11 1 1 10 0 1 Ai 0 0 1 1 0 0 1 1

Bi 0 1 0 1 0 1 0 1 Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1 Y 0 0 1 1 1 1 0 0 Z 0 1 0 1 0 1 0 1 X1 1 1 1 0 1 0 1 1 X2 1 1 0 1 0 1 1 1 X3 1 0 1 1 1 1 1 0 0 Si 1 1 0 1 1 0 0 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1 ⑸按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2－4，并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。

表2－4

Ai 0 0 1 1 0 0 1 1

（6）实验过程及实验图：

1）引脚图：

Bi 0 1 0 1 0 1 0 1 Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1 Si 0 1 1 0 1 0 0 1