单片机原理与应用实验指导书(201203) - 图文

编译通过后，使用菜单栏中的“Debug”下“/start/stop Debug Session”或使用快捷方式(

为了观察每一次加法过程的变化，可通过“View / Memory Window”打开存储器观察窗口，在“Address”栏中输入“D：XXH”（XX为地址），观察内部RAM各单元变化情况。

“Address”栏中输入“D”表示内部RAM，“X”表示外部RAM，“C”表示程序存储空间。

可以用“Debug”选项下各种调试手段调试程序，如单步（进子程序）、单步（不进子程序）、运行到当前光标处、断点运行、全速运行等，以及停止、复位等等，以便进一步熟悉仿真系统的各种操作。

图2-4 程序调试界面

)进入硬件调试系统，如图2-4所示。

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第三章 实验项目

实验一 简单程序设计实验

一、实验目的

掌握 uVision2 IDE单片机集成开发软件的应用，熟悉单片机仿真开发环境，掌握基本的单片机软件调试方法，为后续实验做好准备。

掌握单片机内部RAM之间、内外RAM之间、外部RAM之间的数据传送操作；掌握MCS-51汇编语言程序设计方法。

二、实验内容

1、置数程序

把2000H~20FFH的内容全部置成55H。

（1）实验程序框图 （2）实验步骤

用连续或单步方式运行程序，

检查2000~20FF单元中程序执行前后的内容变化。 （3）思考

假使把2000H~20FFH中的内容改成FFH，如何修改程序。

DPTR+1，R0+1 开 始 R0=00 55H送2000H R0=FFHY 结 束 N 15

2、拆字程序

把2000H的内容拆开，高位送2001H低位，低位送2002H低位，2001H、2002H高位清零，一般本程序用于把数据送显示缓冲区时用。 （1）实验程序框图

（2）实验步骤

用连续或单步方式运行程序，检查2000H~2002H单元中内容变化情况。 （3）思考

如何用断点方式调试本程序。

结 束 2000H内容送A 高低位交换，屏蔽高位后送2001H 2000H内容送A 屏蔽高位后送2002H 开 始 16

3、内部、外部RAM数据传送程序

按以下要求自行设计程序流程图，编写、调试程序。 (1) 内部RAM之间数据传送；

将内部RAM 40H~4FH单元内容传送到内部RAM 60H~6FH单元中。 源数据（首址存放在R2单元中）；目的数据（首址存放在R4单元中）；数据字节数存放在R6单元中。 (2) 内外RAM之间数据传送；

将内部RAM 40H~4FH单元内容传送到外部RAM 2040H~204FH单元中。 源数据（首址存放在R2单元中）；目的数据（首址存放在DPTR0中）；数据字节数存放在R6单元中。 (3) 外RAM之间数据传送；

将外部RAM 1000H~1111H单元内容传送到外部RAM 2000H~2111H单元中。

源数据（首址存放在DPTR0中）；目的数据（首址存放在DPTR1中）；数据字节数存放在R6.R7单元中。

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