第一范文网 - 专业文章范例文档资料分享平台

质谱仪和磁流体发电机易错题试卷含答案解析

来源:用户分享 时间:2025/8/11 17:19:02 本文由loading 分享 下载这篇文档手机版
说明:文章内容仅供预览,部分内容可能不全,需要完整文档或者需要复制内容,请下载word后使用。下载word有问题请添加微信号:xxxxxxx或QQ:xxxxxx 处理(尽可能给您提供完整文档),感谢您的支持与谅解。

质谱仪和磁流体发电机易错题试卷含答案解析

一、高中物理解题方法:质谱仪和磁流体发电机

1.质谱仪是分析同位素的重要工具,其原理简图如图所示。容器A 中有电荷量均为+q、质量不同的两种粒子,它们从小孔S1不断飘入电压为U 的加速电场(不计粒子的初速度),并沿直线从小孔S2(S1与S2连线与磁场边界垂直)进入磁感应强度大小为B 、方向垂直纸面向外的匀强磁场,最后打在照相底片D上,形成a、b两条“质谱线”。已知打在a处粒子的质量为m。不计粒子重力及粒子间的相互作用。 (1)求打在a处的粒子刚进入磁场时的速率v; (2)求S2距a 处的距离xa;

(3)若S2距b处的距离为xb,且xb=2xa,求打在b处粒子的质量mb(用m表示)。

【答案】(1)v?【解析】 【详解】

22mU2qU (2)xa? (3) mb=2m

Bqm(1)粒子经过电压为U的电场,由动能定理有

1qU?mv2?0 ①

2可得

v?2qU m(2)粒子通过孔S2进入匀强磁场B做匀速圆周运动,有

v2qvB?m ②

raxa?2ra ③

联立①②③式可得

xa?(3)同(2)可得

22mU ④

Bqxb?22mbU ⑤

Bq联立④⑤式并代入已知条件可得

mb=2m

2.带电粒子的电荷量与质量之比(

q)叫做比荷。比荷的测定对研究带电粒子的组成和m结构具有重大意义。利用质谱仪可以测量带电粒子的比荷。如图所示为一种质谱仪的原理示意图。某带电粒子从容器A下方的小孔飘入加速电场(其初速度可视为零),之后自O点沿着与磁场边界垂直的方向进入匀强磁场中,最后打到照相底片上的P点。忽略重力的影响。当加速电场的电势差为U,匀强磁场的磁感应强度为B时,O点与P点间的距离为L。

(1)请你说该带电粒子带正电还是带负电。 (2)求该带电粒子的比荷。

【答案】(1)正电 (2) 【解析】 【详解】

q8U?22 mBL(1)根据粒子在磁场中的运动轨迹,结合左手定则可知粒子带正电。 (2)带电粒子在加速电场中加速,根据动能定理

qU?12mv 2带电粒子在磁场中做匀速圆周运动时,洛伦兹力充当向心力

v2qvB?m

R由题知

R?解得带电粒子的比荷

1L 2q8U?22 mBL

3.如图甲所示,电荷量均为+q、质量分别为m1和m2的两个离子飘入电压为U0的加速电场,其初速度几乎为零。离子经加速后通过狭缝O沿着与磁场垂直的方向进入磁感应强度为B的匀强磁场,质量为m1的离子最后打在底片MN的中点P上。已知放置底片的区域

MN=L,底片能绕着轴M顺时针转动,OM=L。不计离子间的相互作用。sin37?=0.6,sin53?=0.8,tan

?1?cos?= 21?cos?(1)求打在MN中点P的离子质量m1;

(2)已知m1=4m2,质量为m2的离子无法打到底片上,但可以绕轴M转动底片,使离子的运动轨迹与底片相切,求运动轨迹与底片相切时底片转过的角度; (3)若将偏转磁场改为半径R=

3L,圆心在O1处的圆形磁场,磁感应强度大小仍为B,磁4场方向垂直于纸面向里,磁场边界与直线MN相切于O点,如图乙所示。两个离子能否打到底片上?若能,求离子离开磁场后运动到底片的时间?

29qB2L23BL(2)143? (3)m1不能,m2能,【答案】(1) 32U032U0【解析】 【详解】

(1)离子在电场中加速

qU0=

在磁场中做匀速圆周运动

1m1v12 2v12qv1B=m1

r1解得

r1=代入r1=

12mU10

Bq3L解得 49qB2L2m1?

32U0(2)由(1)可知

r2?如图1

12m2U0112mU310???L

Bq2Bq8

质谱仪和磁流体发电机易错题试卷含答案解析.doc 将本文的Word文档下载到电脑,方便复制、编辑、收藏和打印
本文链接:https://www.diyifanwen.net/c4w20n5qljc565jb3urou8mpoj7oc3w00zmw_1.html(转载请注明文章来源)
热门推荐
Copyright © 2012-2023 第一范文网 版权所有 免责声明 | 联系我们
声明 :本网站尊重并保护知识产权,根据《信息网络传播权保护条例》,如果我们转载的作品侵犯了您的权利,请在一个月内通知我们,我们会及时删除。
客服QQ:xxxxxx 邮箱:xxxxxx@qq.com
渝ICP备2023013149号
Top