D－校正后筛析直径Φ; d－薄片中视直径Φ
杂基校正：薄片粒度法分析法，也要做杂基校正。方法是用显微镜测的杂基含量（由于切片效应和成岩后生作用，其值一般较高）的2/3或1/2为校正值，假定为X，将各累计频率乘以（100－X）作为该粒级的真正百分含量。
（二）颗粒粒级的划分
一般采用伍登—温德华标准, 它是以毫米为单位的一个分类方案,后来克鲁宾（1934）提出了一种对数换算，称其为Φ值。 Φ＝－log2D （D为颗粒直径）
粒径（毫米）和Φ值的对应关系见下表：
（三）粒度曲线和粒度参数
常用的粒度曲线包括：直方图、频率曲线、累积曲线、概率累积曲线。
1、直方图：横座标为颗粒粒径区间，纵座标表示粒级的百分含量，作出一系列相互连接，高低不平的距形图（见图5－23左上），直方图优点是直观、简明地反映出粒度分布特征。
2、频率曲线：是将直方图每个柱子的纵、横边的中点依次连成多边形频率曲线（图5－23右下），此频率多边形的面积仍基本等于直方图的面积和。频率曲线可清楚地表明粒度分布特点，分选好坏，粒度分布的对称度（偏度），尖度（峰度）等。
3、累积曲线以累积百分含量为纵座标，以粒径Φ为横座标，从粗粒一端开始，在图上标出每一粒级的累计百分含量。将各点以圆滑的曲线连接起来，即成累积曲线。累积曲线一般呈Ｓ型。（图5-23中） 4、概率累积曲线是在正态概率纸上绘制的，横座标代表粒径；纵座标为累积百分数，并以概率标度（以50%处为对称中心，上下两端相
应地逐渐加大），将粗尾、细尾部放大，并清楚地表现出来。粒度不是一个简单的对数正态分布，而是由几个呈对数正态分布的次总体组成，一般来说，包含三个次总体，表现为三个直线段，代表了三种不同的搬运方式：悬浮、跳跃和滚动搬运。
概率图上其它参数有：
截点：二个次总体直线交点,以横座标表示,细截点（S截点），是悬浮总体和跳跃总体的交点；粗截点（T截点）, 是跳动总体和滚动总体的交点。
混合度：指两个次总体直线段相交时，在截点处有些点不在直线上，而是零散过渡的，也称为过渡带，反映沉积分异相对复杂。 次总体百分含量：即各次总体占总量的百分数。
分选性：以各次总体直线段的斜率，即直线段倾斜角度表示。
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