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数字逻辑实验

来源:用户分享 时间:2025/5/29 7:03:00 本文由loading 分享 下载这篇文档手机版
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②74LS74功能说明:

预置 PR 清除 CLR 0 1 1 1 时钟 CK × × 1 0 功能 清零(Q=0) 置1(Q=1) 接数(Q=D) 保持(Q=Q0) 正沿触发双D触发器 1 0 1 1

2. 实验数据记录:

请同学们观察实验数据并填入下表: 节拍 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 时钟信号 CP 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 实验结果显示 Q4Q3Q2Q1 0000 实验八 综合设计实验

一、实验名称:综合设计实验 二、仪器、设备:

数字逻辑实验仪:一台 实验用芯片:若干 三、实验(设计)目的:

利用组合电路和时序电路设计并实现具有一定功能的电路。 参考实验题:序列检测器、脉冲信号发生器等 四、实验步骤:

1. 分析实验原理,确定实验方案;

14

2. 根据实验方案选择适当的芯片;

3. 按照实验方案对所使用的芯片进行连线; 4. 检查线路连接;

5. 接通电源,验证实验结果,填写实验数据;

6. 若实验结果出现错误,则切断电源,重新检查线路和芯片,查找并纠正错误; 7. 实验结果完全正确,则完成实验,关闭电源,整理实验操作台。 五、实验要求

1. 熟悉组合逻辑电路和时序逻辑电路的设计步骤 2. 掌握常用的芯片的功能和引脚图

3. 按照逻辑电路的设计步骤进行相关电路的设计,得出逻辑电路图,并根据设计的电路图

选择合适的芯片 六、实验报告

1. 2. 3. 4. 5.

学生在实验报告中必须给出如下的内容:

给出从原始状态图到最后逻辑电路图的完整的逻辑电路的设计过程。 给出选择的芯片及其个数

给出实验数据,并对实验数据进行分析

给出实验中出现的错误现象,并分析错误原因,给出纠正方案 对实验的整个过程进行总结(可写出对整个实验过程的亲身感受)

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附 录:常见芯片结构图

与非门74LS00:

或非门74LS02:

非门74LS04:

与门74LS08:

74LS10:

四输入与非门74LS20:

8输入与非门74LS30:

或门74LS32:

16

74LS74(或CD4013):

异或门74LS86:

74LS112(或CC4027):

74LS151:

双4选1数据选择器74LS153:

移位寄存器74LS194

17

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