NNNAl 非等轴晶粒下纵向NA 非等轴晶粒下横向NA 非等轴晶粒下平面上NA 测试线上截线的数目 完全在测试环中晶粒数 被测试环截断的晶粒数 测试线上单位长度上截线的数目 非等轴晶粒下纵向NL 非等轴晶粒下横向NL 非等轴晶粒下平面上NL 测试线与晶界相交数 单位长度测试线与晶界相交数 非等轴晶粒下纵向PL 非等轴晶粒下横向PL 非等轴晶粒下平面上PL correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for microscopically determined grain sizes. correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for macroscopically determined grain sizes. AtApNi Ninside Nintercepted NL NLl NLtNLpPi PL PLl PLt PLp Q Qm s SV SV? 标准偏差 单相结构中晶界表面积的体积比 两相结构中晶界表面积的体积比 学生的t乘数，确定置信区间 t VV? 两相结构中?相体积分数 95%CI %RA 4 使用概述
95%置信区间 相对准确率百分速 4.1本标准规定了测定平均晶粒度的基本方法：比较法、面积法和截点法
4.1.1比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，评级图有的是标准挂图、有的是目镜插片。用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级
4.1.2面积法：面积法是计算已知面积内晶粒个数，利用单位面积晶粒数NA来确定晶粒度级别数Gc该方法的精确度中所计算晶粒度的函数。通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数
4.1.3截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数 来确定晶粒度级别数 G。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数，通过有效的统计结果可达到 ±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平，截点法由于不需要精确标计截点或截距数，因而较面积法测量快。
4.2 对于等轴晶组成的试样，使用比较法，评定晶粒度既方便又实用。对于批量生产的检验，其精度已足够了。对于要求较高精度的平均晶粒度的测定，可以使用面积法和截点法。截点法对于拉长的晶粒组成试样更为有效。 4.3如有争议时截点法是所有情况下仲裁的方法
4.4不能测定重度冷加工材和平均晶粒度。如有需要。对于部分再结晶合金和轻度的冷加工材料可视作非等轴晶组成
4.5 不能以标准评级图为依据测定单个晶粒。因为标准评级图的构成考虑到截面与晶粒三维排列关系，显示出晶粒从最小到最大排列分布所反映出有代表性的正态分析结果。所以不能用评级图来测定单个晶粒。根据平均值计算晶粒度级别G，仅对在每一领域的个别测量值进行统计分析 5. 运用性
5.1测定晶粒度时，首先应认识到晶粒度的测定并不是一种十分精确的测量。因为金属组织是由不同尺寸和形状的三维晶粒堆积而成，即使这些晶粒的尺寸和形状相同，通过该组织的
任一截面（检验面）上分布的晶粒大小，将从最大值到零之间变化。因此，在检测面上不可能有绝对尺寸均匀的晶粒分布，也不能有两个完全相同的晶粒面
5.2 在纤维组织中的晶粒尺寸和位置都是随机分布的，因此，只有不带偏见地随机选取三个或三个以上代表性。只有这样，所谓“代表性“即体现试样所有部分都对检验结果有所贡献，而不是带有遐想的去选择平均晶粒度的视场。只有这样，测定结果的准确性和精确度才是有效的。 6取样
6.1测定晶粒度用的试样应在交货状态材料上切取。试样的数量及取样部位按相应的标准或技术条件规定
6.2切取试样应避开剪切、加热影响的区域。不能使用有改变晶粒结构的方法切取试样。 7 检测试样
7.1一般来说，如果是等轴晶粒，任何试样方向都可行。However, the presence of an equiaxed grain
structure in a wrought specimen can only be determined by examination of a plane of polish parallel to the deformation axis.
7.2如果纵向晶粒是等轴的，那么这个平面或其他平面将会得到同样的精度。如果不是等轴的，延长了，那么这个试样不同方向的晶粒度测量会变化。既然如此，晶粒度大小应该至少由两到三个基本平面评定出。横向，纵向和法向。并根据16章计算平均值。如果使用直线而不是圆圈测量非等轴晶粒截点，可有两个测试面得到结果截点数，而不是面积法中所说的三个。
7.3抛光的区域应该足够大，在选用的放大率下，至少能得到5个区域。在大部分情况下，最小的抛光面积达到160mm2就足够了，薄板和丝材除外。
7.4根据E-3推荐的方法，试样应当磨片，装配（如果需要的话），抛光。根据E-409所列出的，试样应被试剂腐蚀。to delineate most, or all, of the grain boundaries (see also Annex A3). 8校准
8.1用千分尺校准物镜，目镜的放大率。调焦时，设置在2%内 8.2用毫米尺测量测试直线的准确长度和测试圆的直径。 9显微照片的准备
When photomicrographs are used for estimating the average grain size,显微照片按E883准备。
10比较法
10.1比较法适用于评定具有等轴晶粒的再结晶材料或铸态材料
10.2使用比较法评定晶粒度时，当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时，评级误差最小。 因此本标准有下列四个系列标准评级图：
10.2.1 系列图片1：无孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍，晶粒度级别：00, 0, 1?2 , 1, 11?2 , 2, 21?2 , 3, 31?2 ,
4, 41?2 , 5, 51?2, 6, 61?2 , 7, 71?2 , 8, 81?2 , 9, 91?2 , 10。
10.2.2系列图片2：有孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍，晶粒度级别：1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8。 10.2.3系列图片3 ：有孪晶晶粒（深腐蚀）75倍，晶粒通称直径：0.200, 0.150, 0.120, 0.090, 0.070,
0.060, 0.050, 0.045, 0.035, 0.025, 0.020, 0.015, 0.010, 0.005mm。
10.2.4系列图片4：钢中奥氏体晶粒（渗碳法）100倍，晶粒度级别：1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8。 10.3 表1列出了各种材料建议使用的标准评级图。例如，有孪晶铜及黄铜（深腐蚀），使用系列图片3。
注1：系列图片1，2，3，4的标准晶粒尺寸例子如图1，2，3，4所示。
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