七十七、问：ARL4460的碳化钨垫片成分是什么？ 答：
用NITON3t分析结果：W：84.9%；Ni：8.0%；Fe：5.3%；Cr：0.6%；Mo：0.2% 。一种硬质合金，硬度挺好，有一定导电性，耐磨，唯一缺点就是太脆了！
七十八、问：ARL4460的碳化钨台板可以加工吗？ 答：
我们用磨床磨得 T8 代替了，厚度 外径做的还不出错，就是下边的倒角没有工具做好，有办法的同仁可以提供下方法。数据和原来断裂的做的差别不大，但还是有些系统误差，仅供参考。
七十九、问：ARL3460/4460光谱仪-1000V产生电路板上的两个压敏电阻VAR1。VAR2烧了不知是多大的？能不能帮我看看，电路板型号OEHVPS950719-2。谢谢了。 答：
VAR1和VAR2是负高压电源的过压保护元件，作用是防止外部强脉冲干扰（如雷及）或内部电路的自身干扰。其电气参数如下： VAR1: K385 压敏电阻 510V，10KA VAR2: K385 压敏电阻 510V，10KA
八十、问：什么是ARL直读光谱所用的内标法和分析线？
答：
由于试样的蒸发、激发条件以及试样组成等的任何变化，使参数A发生变化，均会直接影响谱线强度，这种变化往往是难以避免的，所以在实际光谱分析时，常选用一条比较谱线，用分析线和比较线的强度比进行光谱定量分析，以抵偿这些难以控制的变化因素对A的影响，所采用的比较线称为内标线，提供这种比较线的元素称为内标元素。在光谱定量分析中，内标元素的含量变化不大，它可以是试样中的基体成份，也可是以一定含量加入试样中的外加元素。按这种分析线和内标线强度之比进行的光谱定量分析方法称内标法；所选用的分析线于内标线的组合称为分析线对。但是，并不是任何元素都可作内标元素，任何一对谱线均可作分析线对，因此对内标元素、内标线和分析线的选择必须具备下列条件：
1）分析线对应具有相同或相近的激发电位和电离电位，以减少放电温度（激发温度）的改变对分析线对相对强度因离解度、激发效率及电离度的变化所引起的影响；
2）内标元素与分析元素应具有相近的熔点、沸点、化学活性及相近的原子量，以减小电极温度（蒸发温度）的改变对分析线对相对强度因重熔、溅射、蒸发、扩散等变化所引起的影响；
3）内标元素的含量，不随分析元素的含量变化而改变，在钢铁分析中常采用基体元素铁作为内标；在制作光谱分析标准样品成体设计时，往往使内标元素的含量保持一致，以减少基体效应的影响； (4)分析线和内标线自吸收要小，一般内标线常选用非共振线，其自
吸收系b=1，对分析线的选择在低含量时可选用共振线，在高含量时，可选用自吸收系数b接近1的非共振线；
(5)分析线和内标线附近背景应尽量小且无干扰元素存在，以提高信噪比。
八十一、问：什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰？ 答：
1. 背景辐射干扰
光谱分析中背景主要由于连续光谱和杂散光所产生。连续光谱的产生起因于黑体辐射、韧致辐射和离子—电子的复合。杂散光效应是由于光谱仪器的缺陷，其光学系统对辐射的散射，使通过非预定途径而 到达接收器（光电倍增管）的任何所不希望的辐射所产生的连续背景。
发射光谱分析中背景辐射干扰，主要是指来自附随物对电弧电极及火焰温度的影响而引起的黑体辐射强度的改变。附随物电离对激发区温度和电子密度的影响而引起电子—离子复合过程中连续光谱辐射强度的变化，以及附随物的强发射线（带）引起的杂散光强度的改变，从而导致分析物表观信号的变化。 2. 谱线重叠干扰
谱线重叠干扰是指来自附随物引起饿带状光谱发射和线状光谱发射，以至使这些发射增强或减弱，从而导致谱线重叠引起分析线谱线强度的变化。 3. 背景干扰
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