控制图及Cpk制作与使用指导书
1. 目的
为考察产品在生产中的品质稳定性及过程能力，以便能及时发现不良或不良趋势，作出相应的改善或预
防措施来减少变差，提高生产率。
2. 范围
用于来料、制程和最终的产品。
3. 职责
3.1 质量工程师负责根据客户要求或内部品质控制需要，确定需制作的控制图，计算Cpk的产品特性参
数，负责产品初期能力研究。 3.2 IQC负责来料的SPC的收集和数据验证
3.2 生产部操作员IPQC和FQC负责产品过程控制中的控制图使用。
4. 定义
4.1 Pp 性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能。 4.2 Ppk 说明过程有无偏倚的能力指数，定义为：
USL?XX?LSL及 中较小的值。
?3?3?4.3 Cp 稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移。 4.4 Cpk 稳定过程有无偏移的能力指数，定义为
USL?XX?LSL及 中较小的值。
?3?3?4.5 R 平均数 4.6 R 全距 4.7 UCL 控制上限 4.8 LCL 控制下限 4.9 CL 控制中心 4.10 δ或δ标准偏差
5. 程序
5.1 过程分析的尺寸为客户指定或过程检验指导书中注明特殊符号的尺寸. 5.2 在下列情况下须进行过程分析. 5.2.1 客户要求
5.2.2 内部品质控制要求,对特定尺寸进行过程分析.
5.2.3 过程工具设备或控制方法发生变化,需重新进行Cpk分析和制作控制图.
5.2.4 其它特别要求的
5.3 控制图制作方法，参见QS9000-SPC手册
5.3.1 建立控制图的时机:确定测量系统后,产品试生产阶段进行过程的初期研究 5.3.2 收集数据
5.3.2.1 确定合适的样本组、样本量大小和抽样间隔(选择子组大小，频率和数据)
选择子组大小：子组一般由4到5件连续生产的产品的组合 数据收集频率：依实际情况确定 数组的分组：最小25组数据
5.3.2.2 建立控制图及记录原始数据（见表一） 5.3.2.3 计算每个子组的均值（X-bar）和极差（R）
每个子组计算：X =（X1+X2+…Xn）/n ， R=X最大值-X最小值 式中：X1，X2…..为子组内每个测量值；n 为子组的样本容量。
5.3.2.4 选择控制图的刻度
对于X图，坐标上刻度值的最大与最小值之差至少为子组值（X）的最大与最小值差的2倍。
对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。
5.3.2.5 将均值和极差画到控制图上
将均值和极差分别画在其各自的图上，将各点用直线联接起来从而得到可见的图形程趋势。可直接将原始数据输入电脑，由电脑完成5.3.2.3-5.3.2.5步骤。
5.3.3 计算控制限
5.3.3.1 计算平均极差及过程平均值
全距：R=（R1+R2+…+Rn）/K
平均管理图：X-bar=(X1+X2+…+Xn)/K
K为子组数量，R1和X1为第一个子组的极差和均值。 计算控制限
平均值管制图：中值：CL x=X
控制上限：UCL x = X+ A2R 控制下限：LCL X=X-A2R
全距管理图： 中值：CLx=R
控制上限 ：UCL x =D4R 控制下限：LCL x = D3 R
D4，D3，A2为常数，它们随样本容量的不同而不同，可由下表查得： 5.3.3.2
在控制图上作出平均值和极差控制限的控制图
n D4 D3 A2 2 3.27 * 1.88 3 2.57 * 1.02 4 2.28 * 0.73 5 2.11 * 0.58 6 2.00 * 0.48 7 1.92 0.08 0.42 8 1.86 0.14 0.37 9 1.82 0.18 0.34 10 1.78 0.22 0.31 可由电脑直接完成5.3.3步骤。
5.4 使用X-bar R控制图进行品质分析的方法。 5.4.1 正常管制图的判识原则
5.4.1.1 管制图上的点，集中在中心线附近，且为随机散布，并且不可以有点出现在控制界外。 5.4.2 不正常控制图的判识原则
5.4.2.1点超出控制线外时。(点在控制线上，亦视同超出制制线外的点) UCL
CL LCL 5.4.2.2连续7点以上之点呈上升或下降时。
UCL
CL
LCL
5.4.2.3点发生周期性的变动时。
UCL
CL
LCL
CL
5.4.2.5 连续11点中10点出现中心线之上方或下方时。
UCL
CL
LCL
5.4.2.4点发生周期性的变动时连续7点以上之点出现在中心线之上方或下方时。
UCL
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