触发器（一）R-S、D、J-K触发器 

实验四 触发器（一）R-S、D、J-K触发器

一、 实验目的

1、熟悉并掌握R-S、D、J-K触发器的构成，工作原理和功能测试方法 2、学会正确实验触发器集成芯片

3、了解不同逻辑功能FF相互转换的方法

二、 实验仪器及材料

1、 双踪示波器

2、 器件 74LS00 二输入端四与非门 74LS74 双D触发器 74LS112 双J-K触发器

三、 实验内容

1、 基本R-SFF功能测试：两个TTL与非门首尾相连构成基本R-SFF的电路如图4.1所示。

（1） 试按下面的顺序在端加信号：

QQSd?0,Rd?1 ;Sd?1,Rd?1 ; Sd?1,Rd?0; Sd?1,Rd?1 &&观察并记录FF的Q和Q非端的状态，将结果填入表3.1中，并说明在上述各种输入状态下，FF执行的是什么功能 图4.1 基本R-S FF电路 Sd Rd Q Q 逻辑功能 0 1 1 1

1 1 0 1 （2） Sd端接低电平，Rd端加脉冲 （3） Sd端接高电平，Rd端加脉冲 （4） Sd、Rd端连接，并加脉冲

记录并观察（2）（3）（4）三种状态下Q、Q 端的状态，从中总结出基本R-S触发器的Q或Q端的状态改变和输入端Sd、Rd的关系

（5） 当Sd、Rd都接低电平时，观察Q、Q端的状态，当Sd、Rd同时由低电平跳为高电

平时，观察Q、Q端的状态，重复3-5次看 的状态是否相同。根据观察结果，说

明基本R-S触发器“不定”状态的含义。

2、 维持-阻塞型D触发器功能测试

双D型正边沿维持-阻塞性触发器74LS74的逻辑符号如图4.2所示。图中Sd端为异步置1端，Rd为异步置0端。CP为时钟脉冲端。

（1） 分别在Sd、Rd端加低电平，观察并记录Q、Q端的状态。

（2） 令Sd、Rd端为高电平，D端分别为高、低电平，用点动脉冲作为CP，观察CP为0、

?、1、?时Q端状态的变化。

（3） 当Sd=Rd=1、CP=0（或CP=1），改变D端信号，观察Q端的状态是否变化。整理

实验数据完成表3.2

（4） 令Sd=Rd=1、将D和Q相连，CP加连续脉冲，用双踪示波器观察并记录A对于CP

的波形

表4.2 Sd Rd CP ╳ ╳ ? ? D ╳ ╳ 0 1 Q 0 1 0 1 0 1 0 1 Q 0 1 1 1 1 0 1 1

3、 负边沿触发器74LS112芯片的逻辑符号如图3.3所示。自拟实验步骤测试其功能，并将

结果填入表3.3中。若J=K=1时，CP端加连续脉冲，用双踪示波器观察Q-CP波形，和DFF的D和Q端相连时观察的Q端的波形相比较，有什么不同？ 表3.3

Sd Rd CP ╳ ╳ ? ? ? J ╳ ╳ 0 1 ╳ K ╳ ╳ ╳ ╳ 0 Qn ╳ ╳ 0 0 1 Qn+1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1

1 1 ? ╳ 1 1 4、 触发器功能转换

（1） 将D触发器和J-K触发器 转换成T'触发器，列出表达式，画出实验电路图。 （2） 接入连续脉冲，观察各触发器CP和Q端波形比较两者关系。 （3） 自拟实验表格并填写。

四、 实验报告

1、 整理实验数据并填表

2、 写出实验内容3、4的实验步骤及表达式。 3、 画出实验4的电路图及相应表格 4、 回答各实验中提出的问题。

附录：74LS112引脚图