材料分析原理与技术重点

材料分析原理与技术

材料分析原理与技术

一．单选

1.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ ）

Cu Fe Ni Mo

2.XRD属于（ ）

光谱 能谱 衍射花样

3.一般来说什么样的样品适合于粉末衍射（ ）

具有高度织构的样品 无规则排列的多晶粉末 单晶块材

4.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ ）

背散射电子 俄歇电子 特征X射线

5.中心暗场像的成像操作方法是（ ）

以物镜光栏套住透射斑 以物镜光栏套住衍射斑 将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑

6.衍射仪法中的试样形状是（ ）

丝状粉末多晶 块状粉末多晶 块状单晶 任意形状

7.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）

4 8 6 12

8.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）

是否满足布拉格条件 是否衍射强度I≠0 A+B 晶体形状

9.衍射现象的产生是因为样品中有什么（ ）

周期性排列的原子结构 吸收限近似于入射光子能量的元素 短程有序的无定形相

10.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ ）

哈氏无机数值索引 芬克无机数值索引 戴维无机字母索引

11.XRD检测样品的什么信息（ ）

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