材料分析原理与技术重点(4)

材料分析原理与技术

得到的是反映试样（组织形态）的图像；当中间镜物平面与物镜(背

焦面)重合时, 在观察屏上得到的是反映试样(晶体结构)花样。

12.扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表

面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处,二次电子产额(高) , 在荧光屏

上这些部位的亮度(高),而平面、凹槽底部处二次电子的产额(低),

荧光屏上相应部位的亮度(低)。

13.运动学理论的两个基本假设是（双光束近似）和（柱体近似）

14.产生衍射的必要条件（满足布拉格方程），充分条件（衍射强度不

等于0）

15.影响X射线衍射强度的因子：（洛伦兹因数）、（多重性因数)、（吸

收因数）和（温度因数）

16.点阵参数精确测定的应用：（固溶体固溶度的测定）、（外延层和表

面厚度的测定）、（相图的测定）、（非晶态物质结晶度的测定）和（晶

粒大小的测定）

三．名词解释

1.特征X射线和连续X射线

(1)连续X射线：在X射线管两端加以高压，并维持一定的电流，所

得到的的X射线强度随波长连续变化的X射线称作连续X射线。

(2)特征X射线：高速电子撞击材料后，材料原子内层电子被击出而

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