EPC-10膜片钳放大器的使用 (4)

EPC 10膜片钳放大器的使用

3. 选择放大器软件面板上Test Pulse左侧的noise（图中②所示），开始噪声检测。此时，没有任何测试脉冲输出，Patchmaster会持续计算出Imon2中的噪声大小（rms噪声），并显示在原R-memb的位置（图中③所示）。

4. 选择高增益（探头的高反馈电阻）到50 mV/pA 或更高（图中④所示），可看到噪声降低。 注意：

（1）因模型细胞内部电路开关的介电性质所限，模型细胞引入了一定的额外随机噪声，所以在模拟高阻封接时会比实际情况的噪声高。

（2）放大器内部的滤波器对背景噪声的作用可通过调节Filter 1和Filter 2体现出来。增加Gain到50 mV/pA 或更高时（反馈电阻为50 GΩ），可明显看到信噪比的改善。此时，若放大器探头不连接任何设备，将Filter 2的滤波频率设为2.9 kHz（图中⑤所示）时，噪声值应该低于110 fA，通常为80-100 fA。如果噪声高于110 fA，尝试改变C-fast控制钮；如果放大器从Stim in连接了具有噪声的刺激器，电流噪声将随C-fast而变化，当C-fast补偿数值为1-2 pF时，噪声最小。

（3）探头上连接电极夹持器，插入玻璃电极，将电极尖移近记录槽。打开所有可能带来噪声的设备（如显微镜灯、示波器、照相机等）的电源。设定放大器测试脉冲时间宽度为100 ms（图中⑥所示）、调高Patchmaster图形显示窗口的增益Gain（图中⑦所示）。此时，噪声和50 Hz干扰将非常明显！如果有良好的接地，这些设备将引入不超过100 fA的额外噪声，一般情况下，连接上电极夹持器与插入玻璃电极后，噪声可增加为130 fA左右，电极入浴液并与细胞形成封接后，噪声增加为160 fA左右。

④

②

③

⑦

⑥

① ⑤

（六）放大器的完整测试

如果出现通过重新校正放大器不能解决的硬件问题，可执行Patchmaster的完整测试（Full Test）功能。该功能实际上是一个诊断工具，其诊断结果可让HEKA公司的专家来分析诊断放大器可能存在的故障问题，

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EPC 10膜片钳放大器的使用

对使用者而言没有多少意义。需要指出的是，有时，虽然放大器没有任何硬件问题，但Full Test诊断结果却报告有错误，原因是：（1）Full Test是一个非常严格的检测程序，它会把一切可能的错误都报告出来供分析，以防止漏掉任何可能存在的问题；（2）报告中显示的错误信息可能是由程序出错引起，甚至是由有缺陷的BNC线引起。如果报告提示硬件有问题，要先将报告寄给HEKA公司，而不要急于将放大器寄给HEKA 公司。

放大器完整测试的方法如下：

1. 测试前，需要先准备好放大器探头的BNC屏蔽帽、模型细胞、5根短BNC线。如果使用的是EPC 10 Double或Triple，在放大器软件面板中要选择要测试的放大器。

2. 选择EPC 10菜单中的Full Test，将放大器探头的BNC屏蔽帽接在探头输入端，确保没有其他设备与探头连接，无BNC线与放大器连接，保持探头中部的黑插口（GND）空置。

3. 程序会提示连接3-5根BNC线到放大器上，如果连接测试失败，会出现出错信息，并提示重新进行一次测试。

4. 连接测试结束后，去除所有BNC线，将模型细胞接到探头，并选择10 MΩ位置。若测试的阻抗超出10 MΩ（如模型细胞切换为其他位置时），可看到出错信息，并提示重新进行一次测试。 去除BNC线，继续进行测试，可获得整个关于放大器、探头和连接状态的测试报告。如果报告中有错误信息，软件将会出现警示信息并可打印出错误备忘录。注意，如果报告错误信息，请及时与HEKA公司联系：

八、全细胞记录操作步骤

（一）电极入液

在玻璃微电极内维持一定的正压，用微操纵器使玻璃微电极进入浴液，点击SETUP ，将测试脉冲方波设为单向脉冲。此时应能观察到：（1）电极电阻的大小。如果电极电阻过小，会发现方波幅度过大，同时在Gain附近会出现红色的Clipping标记。此时应该检查电极电阻过小的原因（拉制的原因或电极尖端发生了折断）。（2）方波基线在0电流处。 （二）进行封接

使玻璃微电极逐渐接触细胞，此时测试脉冲幅度下降，有时甚至下降很大。去除正压并轻轻给予负压吸吮以形成稳定封接。封接形成后，封接测试脉冲消失，仅出现电极电容瞬变值。注意： （1） 有时测试脉冲下降的幅度不是很大（使用脑片标本时常出现这种情况），一般下降到原幅度的1/3

左右时即可给予负压吸吮。 （2） 有时封接可自动形成而不需要负压吸吮，这多发生于细胞表面非常干净或采用脂质体标本的情况。 （3） 观察封接电阻的大小，一般全细胞记录要求封接电阻在1 GΩ以上，但具体要根据细胞标本以及所

记录电流的幅度来定。 （4） 点击SEAL，将对电极电容C-fast进行补偿。 （三）打破细胞膜 （1） 继续给予负压吸吮或用Zap功能电击打破细胞膜，出现膜电容的充放电反应。破膜的力度与制备

的细胞标本有关。 （2） 破膜后，缓慢撤除电极内的负压。点击WHOLE-CELL，对细胞膜电容C-slow进行补偿。 （3） 进行串联电阻补偿和漏电流补偿。 （四）实施记录

（1） 在V-membrane中输入钳制电位的数值。 （2） 选择已经编辑好的Control Window中的PGF文件名称，或在Pulse Generator编辑框中点击

EXECUTE，或在Protocol Editor中点击按钮TO END，对细胞进行刺激。 （3） 若要保存记录，则需要在施加刺激前点击Control Window中的Store按钮，对记录文件进行路径

设置及命名。

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